%0 Conference Paper %1 seybold2017extrem %A Seybold, Jonathan %A Buelau, André %A Zimmermann, André %A Frank, Alexander %A Scherjon, Cor %A Burghartz, Joachim %B MikroSystemTechnik Kongress 2017 %D 2017 %I VDE Verlag GmbH %K ifm_conf zimmermann %P 822-823 %T Extrem miniaturisierter optischer Drehwinkelsensor %U https://www.vde-verlag.de %X Winkelmessung auf engstem Raum war bisher eine kaum lösbare Aufgabe. Insbesondere, wenn ein optisches Verfahren angewendet werden soll und eine hohe Auflösung benötigt wird, ist bisher keine zufriedenstellende Lösung zu finden. Hahn-Schickard hat in Zusammenarbeit mit dem IMS Chips einen neuen Ansatz zur Lösung dieser Aufgabe gefunden. %@ 978-3-8007-4491-6

@inproceedings{seybold2017extrem, abstract = {Winkelmessung auf engstem Raum war bisher eine kaum lösbare Aufgabe. Insbesondere, wenn ein optisches Verfahren angewendet werden soll und eine hohe Auflösung benötigt wird, ist bisher keine zufriedenstellende Lösung zu finden. Hahn-Schickard hat in Zusammenarbeit mit dem IMS Chips einen neuen Ansatz zur Lösung dieser Aufgabe gefunden. }, added-at = {2023-06-19T11:52:55.000+0200}, author = {Seybold, Jonathan and Buelau, André and Zimmermann, André and Frank, Alexander and Scherjon, Cor and Burghartz, Joachim}, biburl = {https://puma.ub.uni-stuttgart.de/bibtex/2d6c5aca2eb401ecff5263349c78018bb/holgerruehl}, booktitle = {MikroSystemTechnik Kongress 2017}, eventtitle = {MikroSystemTechnik Kongress 2017}, interhash = {300de779e10aca9803fa524b321bee26}, intrahash = {d6c5aca2eb401ecff5263349c78018bb}, isbn = {978-3-8007-4491-6}, keywords = {ifm_conf zimmermann}, month = {10}, pages = {822-823}, publisher = {VDE Verlag GmbH}, timestamp = {2023-06-19T11:52:55.000+0200}, title = {Extrem miniaturisierter optischer Drehwinkelsensor}, url = {https://www.vde-verlag.de}, venue = {München}, year = 2017 }